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Bonjour à tous
Voici venu le temps de la rentrée !
Après un bel été et deux appels d’offres, nous vous proposons de nous retrouver à l’occasion de la journée thématique de l’axe 6 du DIM Analytics (caractérisation nanométrique) le 14 octobre 2016 dont la thématique est "Caractérisation des nano-objets dans tous leurs états"

Objectifs : suite au 1er séminaire en 2012 sur le sujet, montrer quelles avancées ont eu lieu sur le sujet par les membres du DIM Analytics en terme notamment de collaborations et de nouvelles technologies.

Les interventions des équipes du DIM Analytics porteront sur les caractérisations de nano-objets, sous forme d’aérosols , de matrices complexes liquide ou solide et de nano-bioparticules. Vous trouverez le programme complet ici.
Des échanges auront lieu avec des membres du Club nanoMétrologie (C’Nano).
Comme d’habitude cette journée est ouverte à tous et gratuite mais les inscriptions sont obligatoires et le nombre de places limitées. La date limite pour vous inscrire est fixée au 30 septembre 2016. Vous trouverez le formulaire d’inscription ici.

Le lieu : amphithéatre du LNE 1 rue Gaston Boissier 75015 Paris
T3 ou Bus 89, arrêt G Brassens

Les contacts :
François.gaie-levrel(at) lne.fr
01 40 43 39 80
Vincent.delatour(at) lne.fr
01 40 43 40 75